工业缺陷图像的生成方法、装置、电子设备和存储介质

本申请公开了一种工业缺陷图像的生成方法、生成装置、电子设备和存储介质。生成方法包括：获取工业图像、对工业图像处理，生成预处理图像和边缘图像；通过预处理图像、边缘图像和预设损失函数对扩散模型的VAE模块进行训练，预设损失函数包括重建损失函数、感知损失函数和边缘重建损失函数；通过预设微调算法对扩散模型进行微调训练，得到图像生成模型；及通过图像生成模型生成工业缺陷图像。本申请通多损失函数联合优化扩散模型中的VAE模块，从而提升VAE模块对工业图像细节的编码能力，保证了由扩散模型进行微调训练得到的图像生成模型，可以生成高质量、多样化的工业缺陷图像。