显微激光多普勒测振系统的检测装置、方法及设备

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显微激光多普勒测振系统的检测装置、方法及设备
申请号:CN202510379101
申请日期:2025-03-28
公开号:CN120445379A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种显微激光多普勒测振系统的检测装置、方法及设备,涉及显微激光多普勒测振系统的检测领域,可以检测目标测试模块的检测结果是否准确,从而可以根据标准振动频率对目标检测模块进行校正,提高目标检测模块的检测精度和可靠性。该装置包括:振动模块驱动目标晶片以预设振动频率振动,标准测试模块获取振动中的目标晶片的电学参数,根据电学参数确定目标晶片的标准振动频率,目标测试模块出射激光光束,以使激光光束入射至振动中的目标晶片表面,获取振动中的目标晶片的光学参数,根据光学参数获取目标芯片的目标振动频率,校准模块根据第一差值与预设差值的大小关系,确定目标测试模块的测试范围。
技术关键词
激光多普勒测振 测试模块 频率 光束 参数 校准 计算机设备 气压 关系 存储器 处理器 输出端 元件 腔室 校正 芯片 电压 精度
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