一种IGBT模块键合线老化状态评估装置、方法及介质

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一种IGBT模块键合线老化状态评估装置、方法及介质
申请号:CN202510383015
申请日期:2025-03-28
公开号:CN120177983A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种IGBT模块键合线老化状态评估装置、方法及介质,涉及IGBT模块老化状态评估领域,该装置包括器件关断条件检测模块用于检测IGBT模块的关断电压和关断电流确定IGBT模块的当前关断条件;关断时间检测模块和电流下降时间检测模块分别用于检测当前关断条件下IGBT模块的关断时间和电流下降时间;键合线老化状态评估模块用于根据当前关断条件下IGBT模块的关断时间和电流下降时间评估IGBT模块键合线老化状态。本申请基于关断时间和电流下降时间评估IGBT模块键合线老化状态,提高了评估的准确性。
技术关键词
关断时间 电阻单元 关断条件 状态评估装置 电压跟随电路 检测IGBT模块 键合线 运算放大器 老化状态评估方法 电流 老化模型 调理电路 结温 电压传感器
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