等离子体射流形态控制方法、装置、设备及介质

AITNT
正文
推荐专利
等离子体射流形态控制方法、装置、设备及介质
申请号:CN202510383827
申请日期:2025-03-28
公开号:CN120469523A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种等离子体射流形态控制方法、装置、设备及介质,本方案通过利用深度学习模型,建立电磁参数与射流形态之间的映射关系,可高精度预测射流扩散角、长度和温度分布等关键特性,显著提高调控的准确性;另外,通过闭环控制流程,结合传感器数据采集、误差分析和动态调控,实时响应环境变化与目标形态偏差,确保调控系统的快速响应能力。
技术关键词
射流 形态控制方法 时序特征 注意力机制 多模态 偏差 长短期记忆网络 数据 序列 电磁 形态控制装置 长短期记忆单元 深度学习模型 指标 长度误差 调控系统 样本
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号