一种DIP封装的无源晶振扩频测试电路

本发明属于电子元器件测试技术领域，公开是一种DIP封装的无源晶振扩频测试电路。所述电路包括相连接设置的倍频模块和分频模块；通过外接晶振测试仪(频率计)实现频率检测。倍频模块和分频模块提供测试频率的扩展，倍频模块可选2倍、8倍、16倍的频率扩展输出，分频模块提供0.1倍的频率扩展。通过实施本发明所提供的DIP封装的无源晶振测试电路，同时使用×16和×0.1两个档位，最高可将晶振频率参数的测试带宽扩展160倍。