一种基于FPGA的芯片自动测试设计方法及装置

本发明实施例涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种基于FPGA的芯片自动测试设计方法及装置。本发明实施例能够减少人工操作，提高了测试的准确性和可靠性，通过FPGA的可编程特性使测试程序根据不同测试需求快速调整数据格式、数据位宽、时钟频率等变量，增强了测试系统的灵活性，能够很好的保持稳定性，不易受到外界因素的影响，使得时钟等关键参数皆有较高的稳定性，且装置体积小，便于放置在高低温、湿度、老化、震动等环境测试，大大提高了环境试验的可行性和效率；通过在数据格式中增加延迟时间信息和测试向量重复点压缩存储，极大的缩减了存储器资源的开销和芯片测试过程中向量的读写时间开销；还具有丰富的可扩展性。