一种循环冗余校验方法、装置以及逻辑芯片

本说明书提供一种循环冗余校验方法、装置以及逻辑芯片，涉及电子技术领域。一种循环冗余校验方法，包括：获取待处理数据；基于预设位宽对待处理数据进行拆分，生成N个子数据；根据与预设位宽相对应的CRC矩阵分别对N个子数据进行CRC运算，生成M个第一CRC值；针对M个第一CRC值，从第一个第一CRC值到最后一个第一CRC值，根据当前第一CRC值所对应的子数据在数据包中的位置，在N个CRC子矩阵中选择对应的CRC子矩阵，对当前第一CRC值和前一个第一CRC值进行CRC运算，得到M个第二CRC值，并对M个第二CRC值进行异或运算确定出目标CRC值。通过上述方法，能够满足逻辑芯片设计的时序要求。