一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法

本发明公开了一种光电加速度计驱动芯片故障检测方法，属于测量电变量技术领域。本发明先按过零点划分驱动芯片各模块输出信号，得到正、负半波集合，进而提取波形对称值与波形对称稳定值。将正、负半波集合转换至频域并划分为重要频率和杂波频率，生成4种频率集合。通过计算相邻模块在4种频率集合上的差距，得出相邻模块正半波频率变异值和负半波频率变异值，同时依据相邻模块在波形对称值和波形对称稳定值上的差值，得到相邻模块波形对称差值和波形稳定差值。最终将各相邻模块的这些特征值作为样本输入卷积神经网络，从而精准得到驱动芯片故障值，显著提升了故障检测精度。