超导联调测试系统及方法

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超导联调测试系统及方法
申请号:CN202510392949
申请日期:2025-03-31
公开号:CN120334821A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种超导联调测试系统及方法,其超导联调测试系统包括:光信号传输部、电信号传输部、测试杆、超导芯片;光信号传输部用于输入光信号至超导芯片;电信号传输部用于输入电信号至超导芯片并将超导芯片的测试数据输出;光信号传输部与电信号传输部经内部中空的测试杆将信号输出至超导芯片;测试杆的第一端设置于低温腔室,测试杆的第二端设置于常温室内;超导芯片设置于低温腔室;低温腔室内部设置有低温介质。本发明通过将传统的测试杆进行重新改造,提供了一种全新的测试系统,一方面容纳了光信号传输部,另一方面合并了输入的激励电信号以及测试信号的传输路径,相对于两个电路分别测试而言,极大程度的提高了集成度。
技术关键词
联调测试系统 光信号 芯片 电信号 联调测试方法 测试杆 热沉装置 同轴电缆 内部中空 玻璃管 腔室 管道 光纤 传输路径 常温 介质 电路
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