一种MCU硬件错误异常监测分析方法、装置和电子设备

本发明属于微控制器MCU故障监测和诊断技术领域，特别涉及一种MCU硬件错误异常监测分析方法、装置和电子设备。包括：通过串行SWD调试接口与目标MCU内核连接，利用CMSIS‑DAP协议访问目标MCU内部CoreSight组件，实时监测目标MCU的R0～R15寄存器和功能寄存器；通过实时读取错误寄存器的值来监测错误异常的发生时刻，并在发生错误异常后，利用读回的R0～R15寄存器状态和内容，结合压栈PC的数值，确定问题发生的原因以及错误产生的指令位置。本发明实时监测ARM的R0‑R15寄存器和特殊功能寄存器，无需借助调试器和上位机开发环境，就可以长时间监测跟踪芯片的运行情况。