运控控制系统的闭环压力修正路径计算方法

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运控控制系统的闭环压力修正路径计算方法
申请号:CN202510395892
申请日期:2025-03-31
公开号:CN120523135A
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种运控控制系统的闭环压力修正路径计算方法,本发明属于运动控制技术领域。包括以下步骤:S1打磨路径规划:利用CAM软件结合工件的设计模型,生成适配的打磨路径;S2等距线构建:依据待打磨手机外轮廓,运用特定算法以打磨轮X1轴的半径R1与打磨轮X2轴的半径R2分别构建外轮廓等距线;S3.闭环压力调控:在两个平动轴上安装高精度压力传感器,将处理后的信号反馈至控制系统,控制系统采用增量式PID算法,根据反馈信号计算X1轴和X2轴的位移指令,并将这些指令逐步叠加到各自的平动轴上。实现磨具与工件接触压力的实时监测与动态补偿。实验数据表明,该方法可将压力波动控制在±2N范围内,较传统开环控制(波动±15N)提升73%,有效避免过压损伤和欠压不足问题,显著提高表面加工质量。
技术关键词
路径计算方法 控制系统 高精度压力传感器 闭环 碰撞检测算法 打磨手机 轮廓 磨轮 工件 轨迹 坐标 路径优化算法 方程 圆心 运动控制技术 直线 磨具 外边框
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