失效芯片的筛选方法

本发明提供了一种失效芯片的筛选方法，包括：提供待测试芯片，芯片包括多个阵列形式的存储单元，多个存储单元分为多个扇区，每个扇区内的控制线通过金属线连通，不同扇区的控制线断开；对同一扇区中相邻的控制线分别施加电压，使得同一扇区中相邻的控制线的电压压差与不同扇区中的相邻的控制线之间的电压压差相同；对芯片进行写操作和读操作，以判断同一扇区中相邻的控制线之间的金属线是否被击穿；若同一扇区中相邻的控制线之间的金属线被击穿，则认为芯片失效。本发明提前筛选出了同一扇区中相邻两行存储单元失效的芯片。