光纤光栅传感器测试方法及系统

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光纤光栅传感器测试方法及系统
申请号:CN202510398011
申请日期:2025-03-31
公开号:CN120141334B
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种光纤光栅传感器测试方法及系统,能够解决在实际操作中,温度变化对波长漂移也有显著影响,容易导致应变灵敏度测量不准确的问题。该方法包括:将同一光源信号同时注入第一光纤光栅传感器和第二光纤光栅传感器;通过所述成像模块采集在未加载状态下的第一光纤光栅传感器和第二光纤光栅传感器的初始反射光的干涉及散斑图像;在第一光纤光栅传感器加载状态下,通过所述成像模块采集第一光纤光栅传感器和第二光纤光栅传感器的当前反射光的干涉及散斑图像,以进行比对分析,剔除温度引起的漂移分量,提取纯应变分量。
技术关键词
光纤光栅传感器 成像模块 加载平台 反射光 测试方法 散斑图像 回归算法 波长 电子系统 分析单元 处理器 光源 可读存储介质 信号 存储器 序列 误差 样条
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