一种批量化芯片测试设备

本发明涉及芯片测试的技术领域，尤其涉及一种批量化芯片测试设备，通过吸盘带动芯片转动将其调整至准确位置，通过清理板将残留在芯片触点上的杂质擦除，以确保芯片功能测试结果的准确性，并且，通过吸盘将芯片抵靠在清理板上后再对芯片进行角度调节，此时芯片会与清理板发生相对摩擦，即在对芯片进行角度调节过程中自动完成了芯片触点清理操作，相较于逐一处理，缩短了工艺步骤，有利于提高生产效率；一种批量化芯片测试设备，包括有承接板、承接块、电动推杆、连接块一、管道一、吸盘、管道二、清理板、检测组件、固定组件、压紧组件和驱动组件；底板上连接有驱动组件；驱动组件上连接有固定组件。