一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法

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正文
推荐专利
一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法
申请号:CN202510409214
申请日期:2025-04-02
公开号:CN119916093B
公开日期:2025-07-01
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电子元器件测试技术领域,公开了一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法。本方法包括:在电子元器件工作过程中,获取所述电子元器件的当前工作环境参数数据,并输入至预先训练好的噪声特征提取模型中,得到噪声特征数据;根据所述噪声特征数据,进行噪声对比操作,得到所述噪声预测模型的模型调整参数;根据所述模型调整参数,进行差异程度调整操作,得到调整后噪声预测模型;根据所述调整后噪声预测模型,进行噪声预测操作,得到所述电子元器件的预测噪声特征。本发明能够实现提高噪声测试的准确性。
技术关键词
噪声预测模型 噪声特征提取 噪声测试方法 电子元器件 工作环境参数 支持向量机回归 矩阵 数值 指标 优化噪声 数据获取模块 噪声数据
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