测试板卡、测试方法和测试系统

本公开实施例提供了一种测试板卡、测试方法和测试系统，该测试板卡分别连接外部芯片和目标分析仪器；外部芯片用于向被测存储器和测试板卡发送初始信号和时钟；测试板卡，被配置为：接收外部芯片发送的初始信号和时钟；对初始信号和时钟均进行降频，得到目标信号和目标时钟，将目标信号和目标时钟发送给目标分析仪器；其中，降频的处理使得目标信号和目标时钟满足目标分析仪器的可采样的速率范围，目标分析仪器的可采样的数据速率低于被测存储器工作时的数据速率。