一种数据校验方法、装置、电子设备及存储介质

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一种数据校验方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202510411615
申请日期:2025-04-02
公开号:CN120454740A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种数据校验方法、装置、电子设备及存储介质;所述方法包括:接收第一数据;对所述第一数据对应的码字和校验结果进行初始化设定,得到初始码字和初始校验结果,并同时接收第二数据;所述第一数据为当前待校验数据,所述第二数据为所述第一数据之后的下一待校验数据;基于所述初始码字和初始校验结果,对所述第一数据进行LDPC低密度奇偶校验码增量校验,得到目标码字和目标校验结果;响应于所述目标码字满足设定的第一条件,且目标校验结果满足设定的第二条件,输出所述目标码字。通过本申请,能够提高数据校验的效率,简化了数据校验的逻辑。
技术关键词
码字 LDPC校验矩阵 低密度奇偶校验码 数据校验方法 译码算法 数据校验装置 电子设备 计算机 校验模块 处理器通信 指令 输出模块 可读存储介质 分层 存储器
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