一种计算机内存条老化测试系统

本发明公开了一种计算机内存条老化测试系统，本发明涉及计算机硬件测试技术领域，本发明在PCB板表面划分网格并丝印坐标基准点，利用热成像仪实时采集各网格温度，构建平均温度与平滑灰度值序列，通过FFT变换提取平滑灰度值的振幅谱标准差，并结合峰度、偏度计算ASI，根据不同网格所处的老化程度生成热力图，并基于LSTM模型分析三阶段ASI变化率序列，由此判断计算机内存条的生命周期阶段及老化类型。本发明通过多维度数据融合提升内存条老化评估精度，可降低内存条的维护成本并提高系统可靠性。