一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统及方法

本发明提供一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统及方法，该系统包括老化模拟单元和老化补偿单元，所述老化模拟单元包括电流源系统和金属电阻，用于模拟芯片老化过程；所述老化补偿单元包括比较器、校正控制电路和模拟电路，所述比较器用于检测所述金属电阻两端输出电压差，获取芯片寿命信息；所述校正控制电路根据芯片寿命信息产生校正码并叠加到模拟电路，以补偿器件老化造成的损耗，有效延长了芯片使用寿命，提高了芯片的可靠性和稳定性。