一种电路板表面缺陷检测方法和系统

本发明公开了一种电路板表面缺陷检测方法和系统，包括如下步骤：通过采集电路板表面图像，并对图像进行预处理，生成缺陷候选区域，结合深度学习模型，利用目标检测网络和通道注意力机制提取图像特征，对潜在缺陷区域进行定位和分类，采用多尺度特征融合技术，结合不同尺度的图像特征进行优化，利用时序动态分析对缺陷演化趋势进行预测，并根据预测结果动态调整缺陷检测策略。本发明的系统采用多模块协作的方式，具有较高的灵活性和自适应能力，能够实现对电路板表面微小缺陷的高效、准确检测。