一种过流检测装置及芯片老化设备

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一种过流检测装置及芯片老化设备
申请号:CN202510429757
申请日期:2025-04-08
公开号:CN119936633A
公开日期:2025-05-06
类型:发明专利
摘要
本公开实施例中提供了一种过流检测装置及芯片老化设备,其中,用于通过控制一供电电路的开关控制端以控制供电电路的通断;供电电路包括耦接第一外部电源的供电端以及耦接负载的负载端;过流检测装置包括:过流检测电路,分别耦接供电端以及负载端,以检测供电电路在负载端的输出电流,并根据供电电路的输出电流生成用于判断输出电流是否过流的控制信号;保护电路,分别耦接过流检测装置以及供电电路,用于根据控制信号控制开关控制端以控制供电电路的通/断。本公开中每个待检测芯片都有独立的检测单元,当某个芯片发生故障时,仅切断该芯片的电源,不影响其他芯片的正常工作。
技术关键词
开关元件 芯片老化设备 控制供电电路 偏置电路 电阻 开关控制端 检测芯片 输入端 流检测装置 信号控制开关 输出端 差分放大器 电流 电压 电源
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