一种大容量3D闪存的测试优化方法、系统

本发明涉及一种大容量3D闪存的测试优化方法、系统，其方法包括：基于参考温度和目标温度，通过分组对目标闪存芯片中的随机存储单元进行多次可靠性测试；分别采集目标芯片在参考温度和目标温度下进行可靠性测试的测试数据，并根据所述测试数据构建数据样本集；基于所述数据样本集和少样本训练方法，训练用于判断闪存芯片是否出现故障的判别器模型；获取目标闪存芯片在目标温度下的可靠性测试下的测试数据，并将所述测试数据输入到判别器模型中，得到目标闪存芯片的测试结果。本发明通过选取特征存储单元及判别器预测目标温度下测试结果优化大容量3D闪存芯片测试流程，少量的测试数据分析得到测试结果，大幅缩短测试时间提高测试效率。