一种高分辨率Zeta电位分布的检测装置及其检测方法

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一种高分辨率Zeta电位分布的检测装置及其检测方法
申请号:CN202510437668
申请日期:2025-04-09
公开号:CN120253595A
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
发明专利涉及悬浮体系Zeta电位的检测装置技术领域,具体公开了一种高分辨率的Zeta电位分布的检测装置及其检测方法,包括激光器、分光片、衰减片、透镜、样品池、电极、合束器、压电陶瓷反射镜片组件、反射镜片、接收光路光学组件、光纤、APD检测器、数据采集卡和光陷阱,其中激光器出射后通过分光片分出入射光和参考光。本发明通过对于装置获得的电泳光散射光信号进行自相关运算得到相关曲线,进而通过快速正交搜索算法对相关曲线进行处理,分析得到极高分辨率的频谱信息和样品的Zeta电位分布信息。本发明可极大提升Zeta电位分布检测的分辨率和精度。
技术关键词
反射镜片组件 样品池 压电陶瓷 散射光 分光片 光学组件 激光器 检测器 搜索算法 合束器 衰减片 带电颗粒 光纤 谐波 电极 电位分布图 陷阱 采集卡 反光镜 电压
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