应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法

AITNT
正文
推荐专利
应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法
申请号:CN202510442184
申请日期:2025-04-09
公开号:CN120334612A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法,涉及磁感应测量技术领域,该方法通过构建自适应测量时间调节机制,利用变频信号源,逐步提升频率,通过测量屏蔽装置内外的磁感应强度,然后计算屏蔽效能,基于不同频率下的屏蔽效能曲线,对测量数据进行谐波分析,取每个频率点测得的磁场数据,进行快速傅里叶变换,判定是否有额外的谐波成分;构建屏蔽效能修复机制,根据谐波分析结果,测得的磁感应数据进行滤波。本发明通过通过快速傅里叶变换提取磁场数据的频谱成分,并计算总谐波畸变率,识别屏蔽装置是否存在额外的高频干扰,为屏蔽优化提供依据;通过谐波影响评估,确定高频屏蔽效能下降的关键频率。
技术关键词
屏蔽效能测量方法 磁感应强度 屏蔽装置 数据融合算法 频率 修复机制 磁感应传感器 时间域 谐波畸变率 高频屏蔽 测量点 信号源 高频干扰 屏蔽材料 曲线 低通滤波器
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号