一种光驱动芯片的调试系统

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一种光驱动芯片的调试系统
申请号:CN202510448106
申请日期:2025-04-10
公开号:CN119967064A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种光驱动芯片的调试系统,涉及光电技术领域。该调试系统包括相互连接的前端模块和后端模块,后端模块包括参数监控单元,前端模块包括用户界面;参数监控单元用于接收目标产品上传的调试监测参数;目标产品与调试系统连接,且目标产品内置有多个待调试的光驱动芯片和预设接口协议,各光驱动芯片中寄存器符合SFF‑8472协议标准;用户界面用于显示调试监测参数,用户界面包括多个可操作组件,各可操作组件分别与后端模块的相应单元关联。由此,以实现对不同种类驱动芯片进行统一调试,提升调试效率。
技术关键词
调试系统 光驱动芯片 前端模块 监控单元 查找表 参数 处理单元 批量 光功率 命令 密码 协议 光电 电流 电压
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