一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备

本发明公开了一种半导体芯片封装成品引脚质量检测设备，涉及半导体芯片技术领域，包括底座，拉力检测机构，所述拉力检测机构包括第一固定座和拉力传感器，所述第一固定座共有两个且分别通过螺栓固定套接在位于前端的两根支撑柱上，所述拉力传感器共有两个分别通过螺栓固定安装在两个第一固定座与活动框之间。本发明驱动活动框下降配合拉力传感器实现一次性对多个引脚同时进行拉力质量检测，不仅减轻人工劳动强度，而且同时下拉引脚进行检测，对引脚施加的力相同，使得检测数据可靠性得到提高，通过控制往复杆平移且伸缩，以实现对半导体芯片引脚的弯曲质量检测，不仅提高了检测数据的准确度，还有效地提高了半导体芯片引脚质量检测效率。