一种缺陷检测和评级方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及图像处理领域，本发明公开了一种缺陷检测和评级方法、装置、设备及存储介质，缺陷检测和评级方法包括：对电感进行图像采集，以得到基础图像；构建语义分割网络，并利用语义分割网络对基础图像进行区域提取，以得到线圈轮廓区域；对线圈轮廓区域进行图像处理和区域筛选，以得到特征区域；提取磁芯中心坐标，并计算特征区域的边缘点与磁芯中心坐标的距离，以得到磁芯距离数据；构建缺陷等级量化神经网络，并利用缺陷等级量化神经网络对磁芯距离数据进行评级，以得到评级结果；本发明综合运用多样化的图像处理技术和神经网络，全面优化了缺陷检测的流程和精度，显著提高了检测的准确性和效率。