一种多功能芯片测试设备

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多功能芯片测试设备；包括磁悬浮导轨、随动测试头机构、测试台、五个测试滑座、四个测试固定框和四个测试机构，测试滑座上设置有水平电缸丝杆，水平电缸丝杆的移动端设置竖板，竖板的一侧设置有垂直电缸丝杆，垂直电缸丝杆的移动端设置有测试吸附头，竖板的一端设置有预热板，预热板内设置有预热机构，测试固定框内通过旋转电机设置有测试旋转台，测试旋转台的两端均设置有测试放置台，通过预热机构能够支持室温到高温条件下的芯片测试，并且温控精度可达≤±3摄氏度，具有较高的稳定性，同时，五面检测系统能够在测试移栽过程中对芯片状态进行实时监测，提高对芯片状态的全面监控能力。