摘要
本发明涉及芯片综合测试技术领域,具体涉及一种基于多功能集成的芯片综合测试系统;包括上料机构、收料机构、磁悬浮导轨、随动测试头机构、测试台、五个测试滑座、水平电缸丝杆、竖板、垂直电缸丝杆、测试吸附头、预热板、预热机构、四个测试固定框、四个测试飞拍相机、测试旋转台、测试放置台、清洁毛刷、清洁伸缩杆、清针纸和四个测试机构,通过集成上料机构、收料机构、磁悬浮导轨、随动测试头机构和测试台于一体,改变了传统上料、测试和收料为单独设备需多次转移芯片的状况,而四个测试固定框内的测试旋转台,可连续进行芯片测试,四个测试机构与随动测试头机构提供多种测试功能,满足芯片不同测试需求,提高测试效率。
技术关键词
综合测试系统
测试头机构
磁悬浮导轨
测试台
移动端
顶针杆
收料机构
上料机构
测试组件
测试机构
芯片
旋转电机
预热机构
纵向移动机构
滑座
提篮
上料夹爪机构
顶针机构
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