一种基于多功能集成的芯片综合测试系统

本发明涉及芯片综合测试技术领域，具体涉及一种基于多功能集成的芯片综合测试系统；包括上料机构、收料机构、磁悬浮导轨、随动测试头机构、测试台、五个测试滑座、水平电缸丝杆、竖板、垂直电缸丝杆、测试吸附头、预热板、预热机构、四个测试固定框、四个测试飞拍相机、测试旋转台、测试放置台、清洁毛刷、清洁伸缩杆、清针纸和四个测试机构，通过集成上料机构、收料机构、磁悬浮导轨、随动测试头机构和测试台于一体，改变了传统上料、测试和收料为单独设备需多次转移芯片的状况，而四个测试固定框内的测试旋转台，可连续进行芯片测试，四个测试机构与随动测试头机构提供多种测试功能，满足芯片不同测试需求，提高测试效率。