一种基于多功能集成的芯片综合测试系统

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一种基于多功能集成的芯片综合测试系统
申请号:CN202510453399
申请日期:2025-04-11
公开号:CN120294368A
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片综合测试技术领域,具体涉及一种基于多功能集成的芯片综合测试系统;包括上料机构、收料机构、磁悬浮导轨、随动测试头机构、测试台、五个测试滑座、水平电缸丝杆、竖板、垂直电缸丝杆、测试吸附头、预热板、预热机构、四个测试固定框、四个测试飞拍相机、测试旋转台、测试放置台、清洁毛刷、清洁伸缩杆、清针纸和四个测试机构,通过集成上料机构、收料机构、磁悬浮导轨、随动测试头机构和测试台于一体,改变了传统上料、测试和收料为单独设备需多次转移芯片的状况,而四个测试固定框内的测试旋转台,可连续进行芯片测试,四个测试机构与随动测试头机构提供多种测试功能,满足芯片不同测试需求,提高测试效率。
技术关键词
综合测试系统 测试头机构 磁悬浮导轨 测试台 移动端 顶针杆 收料机构 上料机构 测试组件 测试机构 芯片 旋转电机 预热机构 纵向移动机构 滑座 提篮 上料夹爪机构 顶针机构
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