一种ATE设备中快速读取TDC芯片数据的方法及系统

本发明涉及半导体自动化测试设备领域，特别是涉及一种ATE设备中快速读取TDC芯片数据的方法及系统，特别是在半导体自动化测试设备中，解决当前ATE设备在读取TDC芯片数据时读取效率低下和时间消耗的问题。通过为每个TDC芯片分配独立数据通道，并且将所有TDC芯片按预定义分组规则划分为至少两组，结合片选信号同步触发同一组内的多个芯片并行采样，同时并行读取同一组内的数据，然后依次处理其他组。相较于传统串行方式，本方案将总读取时间从线性复杂度降低至分组次数相关，大幅缩短校准周期。