光刻仿真模型构建方法及相关设备

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光刻仿真模型构建方法及相关设备
申请号:CN202510466202
申请日期:2025-04-14
公开号:CN120233646A
公开日期:2025-07-01
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种光刻仿真模型构建方法及相关设备,构建方法包括:获取设计图,并将设计图拆分成至少两个掩模图,至少两个掩模图于连接区域重叠;分别为每个掩模图构建对应的光学模型,光学模型用于描述对应的掩模图在光刻工艺中光场分布;根据至少两个掩模图的连接关系,合并对应的光学模型,以得到光学合成模型;基于光学合成模型构建光刻胶模型,光刻胶模型用于描述光刻胶图的形成过程。本构建方法通过对每个掩模图构建光学模型,以描述每个掩模图在曝光时对光刻胶的曝光显影区域的整体影响,实现了对双重曝光工艺下曝光过程仿真的目的,提高了光学合成模型仿真结果的准确率,进而降低了芯片制造中的缺陷风险。
技术关键词
光刻胶模型 掩模 参数 仿真模型 双重曝光工艺 光刻工艺 图案 透光率 计算机程序产品 处理器 计算机设备 可读存储介质 存储器 关系 芯片 风险
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