摘要
本发明提供了一种光刻仿真模型构建方法及相关设备,构建方法包括:获取设计图,并将设计图拆分成至少两个掩模图,至少两个掩模图于连接区域重叠;分别为每个掩模图构建对应的光学模型,光学模型用于描述对应的掩模图在光刻工艺中光场分布;根据至少两个掩模图的连接关系,合并对应的光学模型,以得到光学合成模型;基于光学合成模型构建光刻胶模型,光刻胶模型用于描述光刻胶图的形成过程。本构建方法通过对每个掩模图构建光学模型,以描述每个掩模图在曝光时对光刻胶的曝光显影区域的整体影响,实现了对双重曝光工艺下曝光过程仿真的目的,提高了光学合成模型仿真结果的准确率,进而降低了芯片制造中的缺陷风险。
技术关键词
光刻胶模型
掩模
参数
仿真模型
双重曝光工艺
光刻工艺
图案
透光率
计算机程序产品
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计算机设备
可读存储介质
存储器
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芯片
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