一种基于深度学习的SAR方位向欠采样成像方法与系统

AITNT
正文
推荐专利
一种基于深度学习的SAR方位向欠采样成像方法与系统
申请号:CN202510471949
申请日期:2025-04-15
公开号:CN120254852A
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于深度学习的SAR方位向欠采样成像方法与系统,获取SAR数据集,包含满采样的SAR图像,以及每个SAR图像对应的回波数据,作为深度展开网络的输入;获取SAR多普勒中心频率和调频率、载频和卫星等效速度,利用SAR成像中的chirp scaling算法设计成像算子;基于Unet架构构建深度展开网络,对回波信号进行图像恢复;训练深度展开网络,保存损失最小的模型权重文件,权重文件中的参数包含去噪器中卷积层及非线性激活函数中的参数,共轭梯度下降中的可学习参数,及欠采样模式的参数;加载预训练的权重文件,使用展开网络模型进行推理,获取去模糊成像结果,并获取优化后的欠采样策略。本发明实现的方位向模糊抑制效果好。
技术关键词
成像方法 回波 网络 参数 图像 多普勒 非线性 频率 梯度算法 中间层 处理器 复合结构 计算机设备 数据 雷达 可读存储介质 模式 信号
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号