芯片的动态修调方法

本发明提供一种芯片的动态修调方法，在晶圆测试阶段选取中默认档位，测量获得时钟频率初始参数Fb；根据目标值Target与初始参数Fb的差值，以及步长系数Δ获得第一调整步长Step1，Step1为应该进/退几位位数；将修调码更新为默认档位与Step1的代数和后，测量次级参数Fc；基于Fc与Target的二次偏差，获得最终调整步长Step2；输出动态修调后的最佳档位值，其值为默认档位与Step2的代数和，之后测量该档位下的最终参数Fd。本发明在保持与遍历法相同测试精度的前提下，测试效率高于二分法、遍历法，同时可适应工艺波动导致的非线性码值分布，较公式法、二分法的修调精度提升。