基于形位公差和表面完整性的薄壁轴承磨削工艺优化方法

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基于形位公差和表面完整性的薄壁轴承磨削工艺优化方法
申请号:CN202510480766
申请日期:2025-04-17
公开号:CN120012612A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于形位公差和表面完整性的薄壁轴承磨削工艺优化方法,包括以下步骤,1)以精磨速度、精磨量和精磨延时为磨削工艺参数建立正交实验表并加工试样;2)对试样进行实验测量;3)薄壁轴承表面粗糙度、圆度和残余应力关于磨削工艺参数的数学模型;4)计算权重系数,将所述的数学模型作为目标函数,采用加权求和将多目标转化为单目标,得到单目标函数公式;5)采用粒子种群优化算法在给定磨削工艺参数范围内进行全局搜索,获得磨削工艺参数最优解。本发明在多参数优化过程中全面考量了各项性能指标,确保了优化算法的全面性,采用此优化方法加工后的轴承,其形位公差和表面完整性均得到了显著提升。
技术关键词
磨削工艺 薄壁轴承 形位公差 数学模型 粗糙度 参数 应力 粒子 变量 算法 指数 信息熵 速度 线性
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