一种芯片外观缺陷检测方法

本发明公开了一种芯片外观缺陷检测方法，包括：步骤S1，获取芯片外观缺陷典型图像样本，作为原始数据集，并对原始数据集本进行预处理；步骤S2，基于现有的YOLOv7算法的网络结构进行优化，优化后得到改进的YOLOv7目标检测模型；步骤S3，并通过Alpha‑SIoU损失函数对改进的YOLOv7目标检测算法进行训练优化；步骤S4，通过预处理后的数据集训练改进的YOLOv7目标检测算法；步骤S5，通过训练好的改进的YOLOv7目标检测算法进行芯片外观缺陷检测，输出存在缺陷的图片，并定位图片中缺陷的位置；步骤S6，根据图片中缺陷的位置，将对应的芯片进行激光标记，得到外观存在缺陷的芯片。本发明提高了芯片的外观缺陷检测的准确度。