花样中心标定方法及显微分析设备

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花样中心标定方法及显微分析设备
申请号:CN202510488252
申请日期:2025-04-17
公开号:CN120352460A
公开日期:2025-07-22
类型:发明专利
摘要
一种花样中心标定方法及显微分析设备,花样中心标定方法包括步骤:确定晶粒取向分析区域;采集分析区域内菊池花样,构建晶面法向量的理论数据库,提取菊池花样的晶面法向量;划分出多个子区域,每个子区域选取一张菊池花样;采用遗传算法对选取的菊池花样进行多次花样中心的计算,获取对应花样中心的平均值;计算分析区域花样中心的平均值;基于分析区域花样中心的平均值,对分析区域内菊池花样进行标定;确定分析区域内未标定的菊池花样,并基于分析区域花样中心的平均值生成新的花样中心平均值,对未标定的菊池花样进行重新标定。本申请通过划分区域计算花样中心,并结合邻域搜索策略,降低了计算量,提高了EBSD面分布标定率。
技术关键词
标定方法 显微分析设备 晶面 遗传算法 材料晶体学 邻域搜索策略 理论 取向 中心线
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