一种碲镉汞芯片及其制造方法

AITNT
正文
推荐专利
一种碲镉汞芯片及其制造方法
申请号:CN202510497826
申请日期:2025-04-21
公开号:CN120379375A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明属于半导体材料领域,公开了一种碲镉汞芯片及其制造方法,包括:于芯片表面依次匀胶、烘干、曝光、显影,在芯片表面的光刻胶层中开设出光刻孔一,然后沿光刻孔一向芯片内部刻蚀出刻蚀孔,之后去除光刻胶;再次在芯片表面匀胶,光刻胶填满刻蚀孔,然后依次烘干、曝光、显影,在刻蚀孔内套刻光刻孔二,光刻孔二的深度等于刻蚀孔,光刻孔二的直径小于刻蚀孔的直径;再依次进行腐蚀、检测,即完成碲镉汞芯片的制造。本发明通过二次光刻结合湿法腐蚀的工艺,可以有效的去除因干法刻蚀造成的孔内反型,提升芯片性能;并且本发明提供的制造方法可避免湿法腐蚀时腐蚀液腐蚀ZnS层、CdTe层,避免出现台阶型间隙,进一步提升芯片性能。
技术关键词
碲镉汞芯片 光刻胶 匀胶 测试光刻 氧化铬 氢氟酸 半导体材料 磷酸 纯水 丙酮 台阶 溶液
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号