一种固态硬盘的老化测试装置和测试方法

AITNT
正文
推荐专利
一种固态硬盘的老化测试装置和测试方法
申请号:CN202510500509
申请日期:2025-04-21
公开号:CN120412696A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电子器件测试领域。一种固态硬盘的老化测试装置,包括老化测试炉和老化测试板,所述老化测试板上设置有待测试的多个SSD模组,以及测试主控制芯片,测试主控制芯片监测和驱动设置在老化测试板上的电压转换模组,并通过多个分组测试控制芯片分别对待测试的每个SSD模组或每组SSD模组分别进行测试控制,所述电压转换模组一端设置有外部电源连接接口,另一端连接多个过载保护模块,每个过载保护模块连接所述每个SSD模组或每组SSD模组,所述分组测试控制芯片通过所述过载保护模块连接所述每个SSD模组或每组SSD模组。装置还包括设置在老化测试炉外的外部电源模组和测试控制器,测试控制器进行相关测试过程的控制。
技术关键词
老化测试装置 老化测试板 固态硬盘模组 SATA介面 老化测试炉 电源模组 控制器 电压 控制芯片供电 金手指 进程 信号 模块 通讯 电子器件 测试方法
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号