故障检测方法、存储介质、电子设备及程序产品

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故障检测方法、存储介质、电子设备及程序产品
申请号:CN202510502009
申请日期:2025-04-21
公开号:CN120407411A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种故障检测方法、存储介质、电子设备及程序产品,涉及计算机技术领域,其中方法包括:响应于自动化测试失败,获取使用的测试用例和生成的测试故障信息;对测试用例进行解析得到测试用例对应的故障阶段和故障代码;将测试故障信息、故障阶段和故障代码输入故障检测模型,在故障检测模型中基于测试故障信息和故障阶段确定出测试用例对应的故障原因,并基于故障原因生成故障代码的替换代码;基于故障原因和替换代码生成测试用例的故障检测结果。本申请可以基于故障检测大模型准确分析出故障原因,还可以提供相应的解决方法,无需耗费人力资源即可完成测试失败原因的分析,使得对于测试用例的故障检测效率得到提升。
技术关键词
故障检测模型 测试故障 自动化测试失败 故障类别 初始故障检测 故障检测方法 阶段 计算机程序产品 电子设备 处理器 可读存储介质 资源
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