摘要
本发明属于GIS内部金属颗粒的定量计算技术领域,具体公开了一种基于金属微粒极化过程中介电常数的带电荷量测量方法,包括以下步骤:对金属微粒的电荷感应过程和极化过程进行分析,将GIS内部金属微粒视为特殊的电介质;设计光电实验平台,利用光电实验平台进行光子发射,并通过光子发射过程中的光子频率计算得到特殊的电介质的电子束缚频率;根据特殊的电介质的电子束缚频率计算得到GIS内部金属微粒的视在介电常数;构建双层介质模型,并根据双层介质模型和GIS内部金属微粒的视在介电常数计算GIS内部金属微粒的带电荷量。本发明解决了现有技术无法准确评估金属微粒带电量,进而导致无法准确检测和诊断GIS内部金属微粒缺陷的问题。
技术关键词
量测量方法
微粒
放电现象
等效电路模型
介质
频率
电子
光谱仪
带电荷
光电
电压调节器
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