一种半导体存储器测试产线的测试方法与系统

涉及一种半导体存储器测试产线的测试方法与系统，方法包括通过动态负载均衡算法划分产线逻辑组并分配硬件资源，基于LSTM神经网络构建故障预测模型优化测试参数，以及将测试结果、SPD序列号及工站ID号绑定并通过异步消息队列上传至MES系统；系统集成模块化测试配置单元、多维度数据分析平台、权限管理模块和自适应接口装置。本发明实现测试流程的高度自动化与智能化，显著提升测试效率、数据准确性和系统安全性，有效降低人工干预成本并提高故障预测能力，为半导体存储器测试产线提供全面优化的技术解决方案。