一种硅光芯片的检测系统

本发明涉及光学测试技术领域，具体为一种硅光芯片的检测系统，包括结构视角调控模块、反射异常捕捉模块、方向错位验证模块、响应分布平衡模块、以及结构状态标定模块。本发明中，通过图像中灰度差值与连续亮度变化点的提取，结合突跳边界识别与切平面构建，实现对微结构突变区域的精准定位与入射方向提取，旋转采集方向以抑制灰度波动，提升边缘对准图层的光学稳定性，采集亮度扩展轨迹并识别断裂位置，结合扩散幅度差异筛选反射异常点，有效增强对非均质反射的识别能力，排列亮度走向并进行夹角计算，提取方向连续偏移轨迹，实现方向性偏差的动态建模，计算结构内外光照差值并比对轮廓路径，提升对边界响应演化与异常轮廓分布的判别精度。