一种电芯生产过程中涂布漏箔检测方法及装置

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一种电芯生产过程中涂布漏箔检测方法及装置
申请号:CN202510511808
申请日期:2025-04-23
公开号:CN120411034A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种电芯生产过程中涂布漏箔检测方法及装置,属于电池生产技术领域,检测方法包括:获取电芯生产过程中的极片图像;采用预训练的SAM模型对所述极片图像进行分割,提取极片区域得到掩膜图像;对所述掩膜图像进行像素特征提取;采用预训练的GMM模型对提取的所述像素特征进行识别,区分正常像素点和异常像素点;对所述异常像素点进行聚类分析,确定漏箔区域。本发明结合了先进的图像分割模型(SAM)和高斯混合模型(GMM)进行无监督学习检测,配合异常像素点的聚类分析,实现性能优越的工业级实时检测。
技术关键词
像素点 极片 涂布 电芯 掩膜 密度聚类算法 图像分割模型 高斯混合模型 无监督学习 图像获取模块 特征提取模块 计算机程序产品 处理器 指令 识别模块 可读存储介质 报告
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