摘要
本发明公开了一种电芯生产过程中涂布漏箔检测方法及装置,属于电池生产技术领域,检测方法包括:获取电芯生产过程中的极片图像;采用预训练的SAM模型对所述极片图像进行分割,提取极片区域得到掩膜图像;对所述掩膜图像进行像素特征提取;采用预训练的GMM模型对提取的所述像素特征进行识别,区分正常像素点和异常像素点;对所述异常像素点进行聚类分析,确定漏箔区域。本发明结合了先进的图像分割模型(SAM)和高斯混合模型(GMM)进行无监督学习检测,配合异常像素点的聚类分析,实现性能优越的工业级实时检测。
技术关键词
像素点
极片
涂布
电芯
掩膜
密度聚类算法
图像分割模型
高斯混合模型
无监督学习
图像获取模块
特征提取模块
计算机程序产品
处理器
指令
识别模块
可读存储介质
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