基于LabVIEW与PXI的相位差测试及幅频特性扫频测量系统设计方法

基于LabVIEW与PXI的相位差测试及幅频特性扫频测量系统设计方法，包括：利用LabVIEW编程控制PXI硬件实现信号发生与采集的协同控制、相位差动态测量、扫频信号生成与幅频特性分析，以及多维度数据记录与验证功能。所述系统通过多维技术融合架构，基于李沙育图形法，来生成椭圆图像并自动计算相位差，支持公式化分析及多频段相位差验证，解决了传统手动测量效率低、误差大的问题。并且利用扫频式幅频特性分析技术通过自定义算法验证频率范围，快速定位截止频率并生成幅频特性曲线，显著提升测试效率与精度。本发明突破了传统仪器逐点测量与手动操作的局限性，通过LabVIEW与PXI的深度融合，实现了相位差测试与幅频特性分析的一体化、自动化及数字化。