一种定量揭示晶粒尺度变形机制启动量的方法

本发明公开了一种定量揭示晶粒尺度变形机制启动量的方法，属于微观塑性变形及晶体塑性有限元模拟技术领域。该方法结合原位/准原位电子背散射衍射表征与晶体塑性有限元模拟，通过实验获取真实的晶粒初始取向分布及晶粒形态演变信息，并将其引入有限元模型，实现对滑移、孪生等变形机制的精准定量分析。相较于传统方法，该方法突破了实验在晶粒尺度变形机制启动量定量表征方面的局限性，同时克服了常规模拟方法在晶粒尺度下误差较大的问题。通过实验与模拟的深度融合，本方法显著提升了变形机制的定量分析精度，为微观塑性变形机理的研究提供了强有力的技术支撑。