探针卡及其测试方法

本公开实施例提供一种探针卡及其测试方法。该探针卡用于满足多种待测芯片的测试需求，该探针卡包括：多个测试端口，测试端口用于连接至待测芯片以对待测芯片进行测试，测试端口的数量大于或者等于多种待测芯片中每种待测芯片中焊盘的数量，测试端口包括交替排布的信号探针端口和接地探针端口。