一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法

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一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法
申请号:CN202510519751
申请日期:2025-04-24
公开号:CN120044457B
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明属于磁性纳米粒子成像技术领域,涉及一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法,旨在解决现有FFL‑MPI设备视野狭小、成像平面单一、扫描速度慢等问题。本发明包括:向激励模块和多切片梯度模块分别提供激励电流和用于控制轴向平移及径向旋转的动态梯度电流;多切片梯度模块由多个FFL梯度单元组成,每个FFL梯度单元的轴向平移电流相位依次递增,互不相同,实现FFL轴向快速运动;激励模块用于产生激励磁粒子的激励磁场;信号检测模块接收响应信号,经过外置信号补偿和信号处理后,传输至控制与处理模块进行算法重建。本发明可以在空间内同时对多个径向切片成像,突破单一成像平面的限制,提升轴向成像视野和扫描速度。
技术关键词
粒子成像系统 梯度线圈 电流 切片 磁性纳米粒子成像技术 图像重建 输出模块 梯度功率放大器 信号处理模块 粒子成像方法 控制策略 磁粒子成像 轨迹 位置映射 补偿算法
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