缺陷诊断与定位方法、系统和存储介质

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缺陷诊断与定位方法、系统和存储介质
申请号:CN202510520412
申请日期:2025-04-24
公开号:CN120086052B
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种缺陷诊断与定位方法,通过数据采集智能体采集软件系统各个层面的数据,规则匹配智能体对软件系统的数据按照预设规则和案例库进行匹配,识别并确定规则错误模式,异常检测智能体对数据基于机器学习算法进行识别检测,识别并确定异常波动模式,最后根据诊断推理智能体结合规则错误模式和异常波动模式的识别结果进行诊断推理,确定缺陷位置,通过多个智能体协同驱动,检测出软件系统不同的异常模式,通过融合异常模式的识别结果推理诊断,最终定位缺陷位置,有利于实现软件测试缺陷的智能诊断与精准定位,提升软件测试的效率与质量。
技术关键词
异常数据 机器学习算法 案例库 模式 无监督学习算法 推理算法 逻辑回归模型 软件测试缺陷 定位方法 定位缺陷位置 数据分布 可读存储介质 数据获取模块 模拟模型 处理器 统计特征 语义特征
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