一种叶片几何量测量方法

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正文
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一种叶片几何量测量方法
申请号:CN202510524233
申请日期:2025-04-24
公开号:CN120493418A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种叶片几何量测量方法,属于叶片的检测方法,该方法包括步骤:叶片待测点规划、弦线及弦线角的几何量尺寸提取和叶片截面最大厚度的提取;通过本发明中的叶片几何量测量方法可以对叶片待测点进行规划、可以提取弦线及弦线角的几何量尺寸以及提取叶片截面最大厚度,其中规划叶片待测点基于曲线分段及垂距法,综合考虑了拟合的精度和测量的效率要求;提取弦线、弦线角及叶片截面最大厚度涉及到的算法相对简单,提取精度较高,易编写,运行速度快,提高叶片几何量测量的精度和效率。
技术关键词
几何量测量方法 叶片 特征点 直线 规划 曲线特征 终点 精度 理论 两点 端点 方程 连线 分段 圆心 算法 速度 数据
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