检测芯片性能参数的方法及芯片的性能仿真方法

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检测芯片性能参数的方法及芯片的性能仿真方法
申请号:CN202510525759
申请日期:2025-04-24
公开号:CN120493822A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本申请提供的一种检测芯片性能参数的方法及芯片的性能仿真方法,通过获取测试程序在所述芯片上运行时所述芯片的运行参数,其中,所述测试程序用于测量芯片的待测性能参数的参数值;基于所述运行参数确定所述芯片的待测性能参数的参数值,能够实现对性能参数的参数值进行测量,从而能够实现对性能仿真模型进行准确配置,进而能够准确表征芯片的硬件的性能。
技术关键词
性能测试用例 性能仿真方法 仿真模型 检测芯片 指令执行单元 参数 周期 访存指令 时钟 可读存储介质 仿真装置 处理器 序列 模块 存储器 计算机 电子设备 关系
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